薄膜测量仪器 >> 薄膜在线监测控制仪器 >> 温度与薄膜厚度测量监测器 eon-lt温度与薄膜厚度测量监测器是一个基于电脑的薄膜厚度监测器，远远优于优于传统的监测器，传统的监测器无法感知晶体的热变化。本监测器是把频率和温度测量相结合，在实时速率和薄膜厚度监测方面可获取从来没有的精度。 为什么要测量温度？因为加热过程导致晶体的频率变化，毫无疑问等于镀膜引起的频率变化，对大多数速率测量，在正常操作会存在10%的误差，糟糕的情况，会产生的误差。如果你的测量总是出错，那就是我们为什么要用eon-lt温度测量薄膜厚度监测器来测量。 特点： ● 附加精密的温度测量 ● 与新、直观的 eon软件通信 ● 与相应的速率和厚度相伴的实时温度和频率的测绘图 ● 支持挡板的接通和断开 ● 通信：rs-232, usb, 和 wifi ● 双通道扩展能力 ● 包括所有的连接电缆、软件和操作手册 ● 驱动晶体6mhz,1-200ω, 任何类型（石英、石英） ● 两个k型热电偶输入，精确到+/-0.25°c ● 两个高分辨传感头，输入精度达到0.001hz ● 24v电源 ● 工业标准的rs232通信协议 ● 尺寸：4.5英寸 x 2.5英寸 x 1英寸 ● 两个用户可选的传输口 ● led状态指示