| 薄膜测量仪器 >> 薄膜在线监测控制仪器 >> 通用型薄膜生长厚度控制器 | 薄膜生长厚度控制仪 在前沿薄膜技术的设计和制造方面，我们开发了一个新的薄膜厚度控制器，控制器的内部封装了一个超高分辨的沉积控制系统。拥有综合显示，直观的gui和坚实的架构，eon-id 是这个种类仪器的产品，提供无所不包的设计；毫无疑问，eon-id薄膜生长厚度控制器拥有超高分辨沉积控制系统，综合数据触摸屏显示，直观的图形用户界面；提供多种多样的设计和设置，精密的温度监测和源控制，适合各种各样的设置，其范围从工业到实验室，从净化间到多种研究环境。eon-id呈现一体化的解决方案，这可能是你所需要的后一个薄膜石英监测控制器。 特点： ● 综合触摸屏显示，过程编程与监控，比使用智能手机还简单。 ● 通信：rs-232，usb和wifi。 ● 机架式安装(每个插槽可安装1或2个eon-id)。 ● 双传感器和源通道扩展能力(四通道可选)。 ● 的技术增加了在工业环境应用的可靠性和耐久性。 ● 突出的特点是内置温度监测和源控制。 ● 输出输入端口：继电器：10个(可编程)，只有1个中止；输入：8个(可编程)。